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zaa-507♪機器分析ハンドブック〈3〉固体・表面分析編 宗林 由樹/辻 幸一/藤原 学/南 秀明【編】 化学同人(2021/03発売) |
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目次
試料準備(固体試料の溶解;分離操作)
原子吸光分析法
誘導結合プラズマ発光分析法(ICP‐OES)・質量分析法(ICP‐MS)
蛍光X線分析法
X線回折法
X線光電子分光法
光学顕微鏡
電子顕微鏡(TEM、SEM、EPMA)
プローブ顕微鏡
商品の同梱(取り置き)は、落札後4日間でお願いしております。
この期間内にご落札いただいたものは全て左記一律配送料で対応させていただきます。